[发明专利]光学测量仪器无效
| 申请号： | 200880013366.5 | 申请日： | 2008-02-25 |
| 公开（公告）号： | CN101688840A | 公开（公告）日： | 2010-03-31 |
| 发明（设计）人： | 罗曼·格鲁勒;康拉德·福尔斯蒂克 | 申请（专利权）人： | ESE嵌入式系统工程有限责任公司 |
| 主分类号： | G01N21/64 | 分类号： | G01N21/64 |
| 代理公司： | 北京市柳沈律师事务所 | 代理人： | 王 冉 |
| 地址： | 德国斯*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 本发明提供光学测量仪器和测量设备。所述光学测量仪器用于检查包含在样本中的标本，包括：至少一个源，用于提供至少一束电磁波束，该电磁波束旨在照射所述样本并与所述样本中的所述标本相互作用；至少一个传感器，用于检测所述标本和所述电磁波束之间相互作用的输出；整体形成的用于所述光学和电子部件的机械平台；用于所述样本的样本保持器，其中，所述至少一个源，所述至少一个传感器以及所述机械平台集成在一个单片光电模块中，并且所述样本保持器可以连接到所述模块。 | ||
| 搜索关键词： | 光学 测量 仪器 | ||
【主权项】：
1.一种用于检查包含在样本中的标本的光学测量仪器，包括：至少一个源，用于提供至少一束电磁波束，该电磁波束旨在照射所述样本并与所述样本中的所述标本相互作用；至少一个传感器，用于检测所述标本和所述电磁波束之间相互作用的输出；整体形成的用于所述光学和电子部件的机械平台；用于所述样本的样本保持器，其中，所述至少一个源，所述至少一个传感器以及所述机械平台集成在一个单片光电模块中，并且所述样本保持器可以连接到所述模块。
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