[发明专利]含有可溶性金属过氧酸盐络合物的化学机械抛光组合物及其使用方法有效

专利信息
申请号: 200880014807.3 申请日: 2008-05-01
公开(公告)号: CN101675138A 公开(公告)日: 2010-03-17
发明(设计)人: 丹尼拉·怀特;约翰·帕克 申请(专利权)人: 卡伯特微电子公司
主分类号: C09K3/14 分类号: C09K3/14;B24B37/00;H01L21/304
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 代理人: 宋 莉
地址: 美国伊*** 国省代码: 美国;US
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摘要: 发明提供用于在过氧化氢的存在下对含钌基材进行抛光而在该抛光过程期间不形成有毒水平的四氧化钌的化学机械抛光(CMP)组合物。所述组合物包含:(a)包含水溶性金属过氧酸盐络合物、金属过氧酸盐络合物的能氧化的前体、或其组合的催化氧化剂;(b)颗粒研磨剂;和(c)含水载体。所述金属过氧酸盐络合物及其前体各自具有能在化学机械抛光期间被过氧化氢氧化以使所述金属过氧酸盐络合物再生的还原形式。本发明还提供用所述CMP组合物对含钌表面进行抛光的CMP方法。
搜索关键词: 含有 可溶性 金属 过氧 络合物 化学 机械抛光 组合 及其 使用方法
【主权项】:
1.用于在过氧化氢的存在下对含钌基材进行抛光而在该抛光过程期间不形成有毒水平的四氧化钌的化学机械抛光(CMP)组合物,所述组合物包含:(a)包含水溶性金属过氧酸盐络合物、金属过氧酸盐络合物的能氧化的前体、或其组合的催化氧化剂,所述金属过氧酸盐络合物及其前体各自具有能在化学机械抛光期间被过氧化氢氧化以产生所述金属过氧酸盐络合物的还原形式;(b)颗粒研磨剂;和(c)含水载体。
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