[发明专利]用于检测后处理设备内的裂纹的装置、系统和方法有效
| 申请号： | 200880016435.8 | 申请日： | 2008-02-26 |
| 公开（公告）号： | CN101711365A | 公开（公告）日： | 2010-05-19 |
| 发明（设计）人： | 托马斯·M·约努谢尼斯;兰德尔·J·斯塔福德;埃德加·拉纳-库尔齐奥;阿密特·谢亚姆 | 申请（专利权）人： | 康明斯滤清系统知识产权公司 |
| 主分类号： | G01R31/08 | 分类号： | G01R31/08 |
| 代理公司： | 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 | 代理人： | 吴艳;郑霞 |
| 地址： | 美国明*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明公开了一种用于检测微粒过滤器中的裂纹的装置、系统和方法。该方法包括提供包括有底层302和底层表面304的后处理设备106的装置、构成结合到底层表面304的表面的导电路径的导电材料和配置为允许测量导电路径306的电阻的接入点108。该方法可包括测量导电路径306的电阻，并基于电阻测量，确定在底层表面304上是否已经出现一个或更多个裂纹。该方法可进一步包括基于指示的裂纹的数量，标注后处理设备106的性能降低水平，并基于性能降低水平，在服务事件后，用等效的后处理设备替换后处理设备106。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 检测 处理 设备 裂纹 装置 系统 方法 | ||
【主权项】：
一种用于检测后处理设备中的裂纹的装置，所述装置包括：后处理设备，其包括底层和底层表面；导电材料，其构成结合到所述底层表面的至少一个导电路径；多个接入点，其导电地耦合到所述至少一个导电路径。
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