[发明专利]用于探测样品表面的光谱成像方法和系统有效
申请号: | 200880018636.1 | 申请日: | 2008-04-17 |
公开(公告)号: | CN101680840A | 公开(公告)日: | 2010-03-24 |
发明(设计)人: | B·鲁塞尔;A·拉帕波尔;A·科克塔 | 申请(专利权)人: | 堀场乔宾伊冯公司 |
主分类号: | G01N21/65 | 分类号: | G01N21/65;G01J3/28 |
代理公司: | 北京市中咨律师事务所 | 代理人: | 杨晓光;张静娟 |
地址: | 法国*** | 国省代码: | 法国;FR |
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摘要: | 一种用于探测样品(1)的表面(2)光谱成像方法和系统。该光谱成像系统包括:高倍放大或低倍放大装置,其包括物镜(5);外壳(6),其包括光谱仪;以及扫描装置(11),其设置在高倍放大或低倍放大装置的物镜(5)与光谱仪之间,且能够沿两个方向X和Y扫描样品表面(2),以照射样品表面(2)上的被扫描区域(3)。根据本发明,当在被扫描区域上扫描激发射束(8)期间,在探测装置(10)的像素上对在被扫描区域上测量的发射光束(9)的能量进行积分,产生每条像素线的平均光谱数据;存储装置(12)被连接到探测装置(10),每条像素线的所述平均光谱数据被传送到存储装置(12),并且所述存储装置(12)包括存储器,所述存储器能够存储M条像素线的平均光谱数据;并且成像装置(13)被连接到存储装置(12),M条像素线的所述平均光谱数据被同时发送到所述成像装置(13),以获得被扫描区域的平均光谱图像。 | ||
搜索关键词: | 用于 探测 样品 表面 光谱 成像 方法 系统 | ||
【主权项】:
1.一种用于探测样品(1)的表面(2)的光谱成像方法,其包括第一步骤a),其中:用激发射束(8)照射所述样品表面(2),以产生发射光,会聚所述发射光,以形成具有能量的发射光束(9),测量所述发射光束(9)的所述能量,以获得所述样品表面(2)的光谱图像,其特征在于:在所述第一步骤a)中,沿两个方向X和Y在所述样品表面(2)上扫描所述激发射束(8),以照射所述样品表面(2)上的被扫描区域(3)且测量在所述被扫描区域(3)上的所述发射光束(9)的所述能量,当在所述被扫描区域(3)上扫描所述激发射束(8)以及时间t期间对所述发射光束(9)的所述能量进行积分,以获得所述被扫描区域(3)的平均光谱图像,所述光谱成像方法还包括:第二步骤b),其中对所述样品表面(2)的一个或多个其他被扫描区域(3)重复前面的第一步骤a),每个被扫描区域(3)与至少一个其他被扫描区域(3)邻接,第三步骤c),其中在测得的能量中选择一条或多条信息,第四步骤d),其中,如果在所述被扫描区域(3)中探测到至少一条选定的信息时,将一个或多个被扫描区域(3)划分成多个更小的被扫描区域(4),以及将前面的步骤a)至d)应用于至少一个更小的被划分的被扫描区域(4)。
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