[发明专利]显示装置及其制造方法有效

专利信息
申请号: 200880020103.7 申请日: 2008-07-11
公开(公告)号: CN101681955A 公开(公告)日: 2010-03-24
发明(设计)人: 加藤浩巳;B·J·哈德文 申请(专利权)人: 夏普株式会社
主分类号: H01L31/10 分类号: H01L31/10;G02F1/133;H01L27/146;H01L29/786
代理公司: 北京尚诚知识产权代理有限公司 代理人: 龙 淳
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明涉及显示装置及其制造方法。本发明提供能够抑制光电二极管的输出特性的偏差的有源矩阵基板和使用这种有源矩阵基板的显示装置。使用具备n-TFT(20)和p-TFT(30)和光电二极管(10)的有源矩阵基板(1)。光电二极管(10)具备p层(7)、i层(8)、n层(9)。i层(8)在与p层(7)相邻的位置,具备p型杂质的扩散浓度以与n-TFT(20)的沟道区域(23)的p型杂质的扩散浓度相等的方式设定的p型半导体区域(8a),在与n层(9)相邻的位置,具备n型杂质的扩散浓度以与p-TFT(30)的沟道区域(33)的n型杂质的扩散浓度相等的方式设定的n型半导体区域(8b)。
搜索关键词: 显示装置 及其 制造 方法
【主权项】:
1.一种有源矩阵基板,其具备n型薄膜晶体管、p型薄膜晶体管和光电二极管,其特征在于:所述n型薄膜晶体管具备形成有作为源极区域的n型半导体区域、作为漏极区域的n型半导体区域和作为沟道区域的p型半导体区域的硅膜,所述p型薄膜晶体管具备形成有作为源极区域的p型半导体区域、作为漏极区域的p型半导体区域和作为沟道区域的n型半导体区域的硅膜,所述光电二极管具备形成有p型半导体区域、本征半导体区域和n型半导体区域的硅膜,所述光电二极管的p型半导体区域和n型半导体区域在所述光电二极管的硅膜的面方向上以包夹所述本征半导体区域的方式配置,所述本征半导体区域,在与所述光电二极管的p型半导体区域相邻的位置,具备p型杂质的扩散浓度设定为与所述n型薄膜晶体管的沟道区域的p型杂质的扩散浓度相同的p型半导体区域,在与所述光电二极管的n型半导体区域相邻的位置,具备n型杂质的扩散浓度设定为与所述p型薄膜晶体管的沟道区域的n型杂质的扩散浓度相同的n型半导体区域。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于夏普株式会社,未经夏普株式会社许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200880020103.7/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top