[发明专利]异常因素确定方法及系统、用于使计算机执行所述异常因素确定方法的程序、以及记录所述程序的计算机可读记录介质无效

专利信息
申请号: 200880021841.3 申请日: 2008-06-20
公开(公告)号: CN101689051A 公开(公告)日: 2010-03-31
发明(设计)人: 一色昭寿 申请(专利权)人: 夏普株式会社
主分类号: G05B19/418 分类号: G05B19/418;G06Q50/00
代理公司: 上海专利商标事务所有限公司 代理人: 张 鑫
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 一种异常因素确定方法,从判定为合格品的产品的制造数据中,进行主成分分析,至少提取一个最优表现该产品制造条件的特征量(S3、S4)。分别计算以提取出的特征量为坐标轴表示的特征量空间中的原点与各产品的制造数据表示的点之间的距离,作为制造合格品时的平均制造数据与制造不合格品时的各制造数据之间的主显著差异(S5)。分别计算各制造数据在此主显著差异中占有的贡献率,作为主影响度(S6)。从所述制造数据中,将相对于制造合格品时在制造不合格品时主影响度实质性增加了的制造数据确定为异常因素(S7、S8)。
搜索关键词: 异常 因素 确定 方法 系统 用于 计算机 执行 程序 以及 记录 可读 介质
【主权项】:
1.一种异常因素确定方法,在生产工艺中确定不合格品产生的因素,所述生产工艺对产品执行一个以上的制造工序,并且执行对已经历所述制造工序的所述产品的检查工序,其特征在于,所述生产工艺中,对于每个所述产品,相关联地获取包含该产品的制造条件的一种以上制造数据与所述检查工序的检查结果,根据所述检查结果,判定该产品是合格品还是不合格品;从判定为合格品的产品的制造数据中,进行主成分分析,至少提取一个最优表现该产品制造条件的特征量;分别计算以提取出的特征量为坐标轴表示的特征量空间中的原点与所述各产品的制造数据表示的点之间的距离,作为制造合格品时的平均制造数据与制造不合格品时的各制造数据之间的主显著差异;分别计算各制造数据在此主显著差异中占有的贡献率,作为主影响度;从所述制造数据中,将相对于制造合格品时在制造不合格品时所述主影响度实质性增加了的制造数据确定为异常因素。
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