[发明专利]光电二极管自测试有效
| 申请号： | 200880022085.6 | 申请日： | 2008-05-27 |
| 公开（公告）号： | CN101688894A | 公开（公告）日： | 2010-03-31 |
| 发明（设计）人： | G·普雷谢尔;T·弗拉克 | 申请（专利权）人： | 皇家飞利浦电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/26 | 分类号： | G01R31/26 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 | 代理人： | 刘 鹏;谭祐祥 |
| 地址： | 荷兰艾*** | 国省代码： | 荷兰;NL |
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| 摘要： | 光电检测器阵列(142)包括多个光电检测器单元(202)，例如雪崩光电二极管(208)和读出电路(210)。阵列自测试器(226)测试单元(202)的暗计数或其他性能特性。该测试结合阵列(142)的制造而执行或者在将阵列(142)安装到检测系统(100)中之后执行。 | ||
| 搜索关键词： | 光电二极管 测试 | ||
【主权项】：
1.一种光电检测器，包括：半导体衬底；在该衬底上制造的多个光电检测器单元(202)，每个单元包括雪崩光电二极管(208)和读出电路(210)；测试器(226)，其在所述衬底上制造并且被配置成测试这些单元。
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