[发明专利]制备高纯度二氧化硅颗粒的方法无效

专利信息
申请号: 200880023455.8 申请日: 2008-06-16
公开(公告)号: CN101688068A 公开(公告)日: 2010-03-31
发明(设计)人: K·舒马赫;C·舒尔策-伊斯福特 申请(专利权)人: 赢创德固赛有限责任公司
主分类号: C09C1/30 分类号: C09C1/30;C03C3/06;C01B33/18;C03C12/00
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 代理人: 于 辉
地址: 德国*** 国省代码: 德国;DE
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摘要: 本申请公开了制备二氧化硅颗粒的方法,该二氧化硅颗粒的比表面积小于1m2/g,并且杂质比例小于50ppm,其中:a)使用装填密度为15至190g/l的二氧化硅粉末:b)将所述二氧化硅粉末压实为结块,随后将所述结块压碎,结块碎片的装填密度为210至800g/l:并且c)用一种或多种反应性化合物在400至1100℃下处理所述结块碎片。
搜索关键词: 制备 纯度 二氧化硅 颗粒 方法
【主权项】:
1.制备二氧化硅颗粒的方法,该二氧化硅颗粒的比表面积小于1m2/g,并且杂质比例小于50ppm,其中a)使用装填密度为15至190g/l的二氧化硅粉末,b)将所述二氧化硅粉末压实为结块,随后将所述结块压碎,结块碎片的装填密度为210至800g/l,并且c)用一种或多种反应性化合物在400至1100℃下处理所述结块碎片。
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