[发明专利]用于测量辐射的X射线源无效
| 申请号： | 200880023948.1 | 申请日： | 2008-07-07 |
| 公开（公告）号： | CN101689464A | 公开（公告）日： | 2010-03-31 |
| 发明（设计）人： | R·K·O·贝林 | 申请（专利权）人： | 皇家飞利浦电子股份有限公司 |
| 主分类号： | H01J35/10 | 分类号： | H01J35/10 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 | 代理人： | 王 英;刘炳胜 |
| 地址： | 荷兰艾*** | 国省代码： | 荷兰;NL |
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| 摘要： | 具有大探测器阵列的锥束CT扫描器遭受增加的散射辐射。该辐射可造成严重的图像伪影。根据本发明的代表性实施例，提供了一种直接测量散射辐射的检查装置。所述测量通过利用具有阳极盘(500)的X射线管来执行，所述阳极盘包含位于阳极盘的目标区域(512)中的狭缝(510)。所述狭缝开口适于至少部分地被来自X射线管阴极的电子束(580)穿透，以便从第二阳极(550)交替生成X射线的次级源(555)，籍此次级源位于X射线探测器的抗散射栅的焦点区域之外。锥束CT扫描器还可能遭受锥束伪影。描述了一种X-10射线管，其帮助测量附加的扫描数据集。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 测量 辐射 射线 | ||
【主权项】：
1、一种阳极盘，用于测量旋转阳极X射线管的散射辐射或用于向感兴趣对象发射电磁辐射，所述阳极盘包含：至少一个狭缝；其中，所述狭缝位于所述阳极盘的目标区域中；并且其中，狭缝开口适于至少部分地被所述X射线管的阴极电子束穿透。
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