[发明专利]介质中混合物的光学远程检测方法有效

专利信息
申请号: 200880101117.1 申请日: 2008-05-26
公开(公告)号: CN101815931A 公开(公告)日: 2010-08-25
发明(设计)人: 热罗姆·卡斯帕里安;让-皮埃尔·沃尔夫 申请(专利权)人: 克洛德·贝纳尔-里昂第一大学;国家科学研究中心
主分类号: G01J3/457 分类号: G01J3/457
代理公司: 隆天国际知识产权代理有限公司 72003 代理人: 张浴月;刘文意
地址: 法国*** 国省代码: 法国;FR
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 发明涉及一种对介质中的混合物进行远程光学检测的方法,以及一种适于实现该方法的设备,在该方法中:检测测量通过如下步骤实现:向介质发射宽度至少为3nm的短脉冲,并且借助具有瞬时分辨率的检测单元检测被所述介质反向散射的一部分光;基准测量,其中发射的光或反向散射的光依靠可寻址过滤装置被过滤,可寻址过滤装置仿真待寻找的至少一种给定混合物处于工作波长的光的光学光谱;检测测量与基准测量的比较,以便据此推断在介质中存在被寻找的混合物的可能性,动态地改变可寻址过滤装置,对容易存在于介质中的一系列多种混合物进行一系列基准测量与一系列对应的比较。
搜索关键词: 介质 混合物 光学 远程 检测 方法
【主权项】:
一种对介质(4,13,113,215)中的混合物进行远程光学检测的方法,其中:检测测量通过如下步骤进行:从被称为检测光源的光源(1,11,111,211)向介质(4,13,113,215)发射短光脉冲,其中所述短光脉冲覆盖宽带的波长,并具有至少为3nm的宽度,优选宽度至少为10nm,并且借助具有瞬时分辨率的单元(6,15,118,217)来检测被所述介质反向散射的一部分光;基准测量通过如下步骤进行:从与所述检测光源具有相同特性的被称为基准光源的光源(1,11,111,212)向介质(4,13,113,215)发射短光脉冲,并且借助具有瞬时分辨率的检测单元(6,15,119,217)来检测被所述介质反向散射的一部分光,发射的光或反向散射的光通过可寻址过滤装置(2,16,115,218)被过滤,所述可寻址过滤装置(2,16,115,218)仿真待寻找的至少一种给定混合物的处于工作波长的光的光学光谱;比较检测测量与基准测量,以便据此推断在介质中存在被寻找的所述混合物的可能性;动态地改变可寻址过滤装置(2,16,115,218),针对可能存在于介质中的一系列不同的混合物进行一系列基准测量与一系列对应的比较。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于克洛德·贝纳尔-里昂第一大学;国家科学研究中心,未经克洛德·贝纳尔-里昂第一大学;国家科学研究中心许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200880101117.1/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top