[发明专利]存储元件和存储装置有效

专利信息
申请号: 200880101256.4 申请日: 2008-07-31
公开(公告)号: CN101765914A 公开(公告)日: 2010-06-30
发明(设计)人: 大场和博;水口徹也;保田周一郎 申请(专利权)人: 索尼公司
主分类号: H01L27/10 分类号: H01L27/10;H01L45/00;H01L49/00
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 代理人: 吴孟秋;梁韬
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供一种电阻变化型存储装置,该装置能够提高在存储状态和擦除状态下的电阻值的保持能力。包括高电阻层(2)和离子源层(3)的存储层(5)被设置在下部电极(1)和上部电极(4)之间。离子源层(3)包括作为添加元素的Al(铝),以及诸如S(硫)、Se(硒)和Te(碲)(硫族化物元素)的离子导电材料和诸如Zr(锆)的待离子化的金属元素。由于离子源层(3)中包括铝,在擦除操作中在阳极上形成了包括Al(Al氧化物)的高电阻层。因此,改善了高电阻状态下的保持特性,同时提高了操作速度。
搜索关键词: 存储 元件 装置
【主权项】:
一种存储元件,所述存储元件具有在第一电极和第二电极之间的包含离子源层的存储层,并通过所述存储层电特性的变化来存储信息,其中,所述离子源层包括Al(铝),以及离子导电材料和待离子化的金属元素。
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