[发明专利]用于确定用于检测芯片上的故障的相关值以及确定芯片上的位置的故障概率的方法和装置有效
| 申请号： | 200880101430.5 | 申请日： | 2008-12-17 |
| 公开（公告）号： | CN101821640A | 公开（公告）日： | 2010-09-01 |
| 发明（设计）人： | 约亨·里瓦尔 | 申请（专利权）人： | 惠瑞捷(新加坡)私人有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京东方亿思知识产权代理有限责任公司 11258 | 代理人： | 宋鹤;南霆 |
| 地址： | 新加坡*** | 国省代码： | 新加坡;SG |
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| 摘要： | 本发明描述了一种用于确定相关值(R(i，m))的方法，每个相关值表示用于检测芯片上的故障的第一数目(I)的输入节点中的输入节点(i)与第二数目(M)的测量节点中的测量节点(m)的组合((i，m))的相关性，所述方法包括：在第一数目(I)的输入节点处应用第三数目(K)的测试，其中第三数目(K)的测试中的每个测试(k)为每个输入节点(i)定义一测试输入选项(U(k，i))；针对第三数目(K)的测试中的每个测试(k)测量在第二数目(M)的测量节点中的每个测量节点处的信号，以针对第二数目(M)的测量节点中的每个测量节点(m)获得第三数目(K)的测量值，其中每个测量值(Y(k，m))与测量所针对的测试(k)和被测量的测量节点(m)相关联；以及确定相关值(R(i，m))，其中每个相关值是基于针对相应组合的输入节点(i)所定义的第三数目(K)的测试输入选项(U(k，i))和与相应组合(i，m)的测量节点(m)相关联的第三数目(K)的测量值(Y(k，m))之间的互相关性来计算的。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 确定 检测 芯片 故障 相关 以及 位置 概率 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种用于确定相关值(R(i，m))的方法，每个相关值表示用于检测芯片上的故障的第一数目(I)的输入节点中的输入节点(i)与第二数目(M)的测量节点中的测量节点(m)的组合((i，m))的相关性，所述方法包括：在所述第一数目(I)的输入节点处应用(1710)第三数目(K)的测试，其中所述第三数目(K)的测试中的每个测试(k)为每个输入节点(i)定义测试输入选项(U(k，i))；针对所述第三数目(K)的测试中的每个测试(k)测量(1720)在所述第二数目(M)的测量节点中的每个测量节点处的信号，以针对所述第二数目(M)的测量节点中的每个测量节点(m)获得第三数目(K)的测量值，其中每个测量值(Y(k，m))与测量所针对的测试(k)和被测量的测量节点(m)相关联；确定(1730)所述相关值(R(i，m))，其中每个相关值是基于针对相应组合的输入节点(i)所定义的第三数目(K)的测试输入选项(U(k，i))和与所述相应组合(i，m)的测量节点(m)相关联的第三数目(K)的测量值(Y(k，m))之间的互相关来计算的。
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