[发明专利]屏蔽的栅极沟槽场效应晶体管的方法和结构有效

专利信息
申请号: 200880103707.8 申请日: 2008-08-15
公开(公告)号: CN101785091A 公开(公告)日: 2010-07-21
发明(设计)人: 戈登·K·马德森 申请(专利权)人: 飞兆半导体公司
主分类号: H01L21/336 分类号: H01L21/336;H01L29/78
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 代理人: 余刚;吴孟秋
地址: 美国*** 国省代码: 美国;US
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要: 一种屏蔽的栅极场效应晶体管,包括延伸进入半导体区的沟槽。屏蔽电极位于沟槽的下部中,并且通过屏蔽电介质与半导体区绝缘。屏蔽电介质包括第一介电层和第二介电层,第一介电层在第二介电层和半导体区之间延伸。第二介电层包括在氧化过程中抑制沿第二介电层覆盖的半导体区的表面的氧化物生长的材料。电极间电介质覆盖屏蔽电极之上,并且栅极电介质顺着上沟槽侧壁。栅电极位于电极间电介质之上的沟槽的上部中。
搜索关键词: 屏蔽 栅极 沟槽 场效应 晶体管 方法 结构
【主权项】:
一种屏蔽的栅极场效应晶体管,包括:沟槽,延伸进入半导体区;屏蔽电极,位于所述沟槽的下部中,所述屏蔽电极通过包括第一介电层和第二介电层的屏蔽电介质而与所述半导体区绝缘,所述第一介电层在所述第二介电层和所述半导体区之间延伸,所述第二介电层包括用于在氧化过程中抑制沿由所述第二介电层覆盖的所述半导体区的表面的氧化物生长的材料;电极间电介质,覆盖在所述屏蔽电极之上;栅极电介质,附衬于上沟槽侧壁;以及栅电极,位于所述电极间电介质之上的所述沟槽的上部中。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于飞兆半导体公司,未经飞兆半导体公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200880103707.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top