[发明专利]通过在工件上加工参考标记并测量参考标记与参考点之间的偏移量的激光加工校准方法无效
| 申请号： | 200880104549.8 | 申请日： | 2008-08-29 |
| 公开（公告）号： | CN101790433A | 公开（公告）日： | 2010-07-28 |
| 发明（设计）人： | 胡兆力;C·C·黄;J·L·科赫 | 申请（专利权）人： | 卡特彼勒公司 |
| 主分类号： | B23K26/04 | 分类号： | B23K26/04 |
| 代理公司： | 北京市中咨律师事务所 11247 | 代理人： | 吴鹏;高美艳 |
| 地址： | 美国伊*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明公开了一种校准方法。该方法包括相对于工作空间(16)的至少一个参考基准面(14)定位激光器(12)的焦点(24)，所述焦点(24)位于所述激光器(12)进行加工的位置。该方法还包括通过在焦点(24)处进行激光加工将至少一个参考标记加工到工件(20)上，以及测量位于工件(20)上的参考点与所述至少一个参考标记之间的偏移量。 | ||
| 搜索关键词： | 通过 工件 加工 参考 标记 测量 之间 偏移 激光 校准 方法 | ||
【主权项】：
一种校准方法，包括：相对于工作空间(16)的至少一个参考基准面(14)定位激光器(12)的焦点(24)，所述焦点位于所述激光器进行加工的位置；通过在所述焦点处进行激光加工，将至少一个参考标记(36)加工到工件(20)上；以及测量工件上的参考点与所述至少一个参考标记之间的偏移量(40)。
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