[发明专利]用于增强试样中靶分子荧光检测的系统和方法无效

专利信息
申请号: 200880105610.0 申请日: 2008-07-09
公开(公告)号: CN101809433A 公开(公告)日: 2010-08-18
发明(设计)人: 沃伦·谢·沃·尚;T·L·詹宁斯;耶西·M·克洛斯特拉尼克 申请(专利权)人: FIO公司
主分类号: G01N21/64 分类号: G01N21/64;C12Q1/68;G01N33/53;G01N33/543;G01N33/569;G01N33/574;G01N33/58;C40B70/00
代理公司: 北京市路盛律师事务所 11326 代理人: 吴振江
地址: 加拿大*** 国省代码: 加拿大;CA
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摘要: 用于与照射装置一起使用的增强试样中靶分子荧光检测的系统和方法。提供第一荧光团吸EMF照射,并发射第一信号。提供第二荧光团用于部分吸收第一信号,并发射可区别于第一信号的第二信号。将荧光团与试样结合,并确保靶分子与其相关。第一荧光团从照射装置接受EMF照射后,检测第一信号,以及当存在靶分子时,同时检测第二光谱信号。
搜索关键词: 用于 增强 试样 分子 荧光 检测 系统 方法
【主权项】:
一种增强试样中靶分子荧光检测的方法,用于与照射装置一起使用,该方法包括如下步骤:(a)提供一个或多个第一荧光团,所述第一荧光团有效适于吸收电磁频率(EMF)照射和在吸收电磁频率照射后发射第一荧光信号;和(b)提供一个或多个第二荧光团,所述第二荧光团有效适于吸收第一荧光信号的第一入射部分和在吸收该第一入射部分后发射第二荧光信号,第二荧光信号区别于第一荧光信号;其中第一荧光团和第二荧光团适于与试样有效结合,且适于确保当靶分子存在于试样中时与靶分子相关,从而确保第一荧光团与第二荧光团相关;和其中,在借助照射装置用电磁频率照射来有效照射至少第一荧光团后,第一荧光团发射第一荧光信号,并且,当试样中存在靶分子时,第二荧光团吸收第一荧光信号的第一入射部分并发射第二荧光信号;由此第一光谱信号被有效检测,并且当试样中存在靶分子时,同时有效检测第二光谱信号。
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