[发明专利]发射功率测定方法、发射功率测定用耦合器以及发射功率测定装置无效

专利信息
申请号: 200880106814.6 申请日: 2008-09-25
公开(公告)号: CN101802625A 公开(公告)日: 2010-08-11
发明(设计)人: 手代木扶;桧谷绫;河村尚志;佐久间彻 申请(专利权)人: 安立股份有限公司
主分类号: G01R29/08 分类号: G01R29/08;H01Q17/00;H01Q19/00
代理公司: 北京市柳沈律师事务所 11105 代理人: 黄小临
地址: 日本神*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明的发射功率测定方法包括:准备具有封闭空间的椭圆镜的步骤,该封闭空间由将椭圆以通过其两个焦点的轴线为中心旋转规定角度所获得的椭圆球状构成的金属壁面包围而成;在所述椭圆镜的封闭空间内的所述两个焦点中的一个焦点的位置上配置可发射电波的被测定物,以使该电波的发射中心与所述一个焦点的位置大致一致的步骤;在所述椭圆镜的封闭空间内的所述两个焦点中的另一个焦点的位置上配置接收天线的步骤;以及在所述椭圆镜的封闭空间内,从配置在所述一个焦点的位置的所述被测定物发射电波,并且将从被测定物发射的电波通过所述壁面反射之后由配置在所述另一个焦点的位置的所述接收天线接收,并根据来自该接收天线的输出信号,在该接收天线的测定端上测定从所述被测定物发射的电波的总发射功率的步骤。
搜索关键词: 发射 功率 测定 方法 耦合器 以及 装置
【主权项】:
一种发射功率测定方法,包括:准备具有封闭空间的椭圆镜的步骤,该封闭空间由将椭圆以通过其两个焦点的轴线为中心旋转规定角度所获得的椭圆球状构成的金属壁面包围;在所述椭圆镜的封闭空间内的所述两个焦点中的一个焦点的位置上配置可发射电波的被测定物,以使该电波的发射中心与所述一个焦点的位置大致一致的步骤;在所述椭圆镜的封闭空间内的所述两个焦点中的另一个焦点的位置上配置接收天线的步骤;以及在所述椭圆镜的封闭空间内,从配置在所述一个焦点的位置的所述被测定物发射电波,并且将从被测定物发射的电波通过所述壁面反射之后由配置在所述另一个焦点的位置的所述接收天线接收,并根据来自该接收天线的输出信号,通过该接收天线的测定端测定从所述被测定物发射的电波的总发射功率的步骤。
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