[发明专利]超声波探伤方法及其装置

摘要

本申请发明的超声波探伤方法及其装置使用体聚焦探伤法，在被检材(m)的剖面视中，对于阵列探测器(10)中的一个沿着被检材呈现的矩形的一边，对于阵列探测器(10)的另一个沿着与上述一边邻接的边的一个边，排列了阵列探测器(10)各自的多个振子(1...1)。激励单元在阵列探测器的各自中，将该阵列沿伸的各个边作为入射边，通过垂直探伤法以及斜角探伤法，根据多个振子的1次振动，从入射边的各位置向被检材内部入射超声波，使通过垂直探伤法入射的超声波到达与入射边对向的对向边，使通过斜角探伤法入射的超声波到达与入射边邻接的邻接边的一个边，而不将超声波的实际的焦点设定在被检材内部。

主权项

一种超声波探伤装置，具备：阵列探测器，具有能够沿着被检材表面排列的多个振子；激励单元，对阵列探测器的各振子进行激励；波形存储器，将由各振子接收的超声波接收回波作为每个振子的波形数据而存储；相位合成单元，读出存储有每个振子的波形数据的上述波形存储器的内容并进行相位合成；以及焦点单元，在上述波形存储器的读出中，将该各波形存储器的地址作为与针对虚拟电子扫描范围内的任意位置的动态聚焦的波束路程距离相当的地址而提供，使用如下体聚焦探伤法：从阵列探测器的所有振子一起对被检材发送超声波，用所有振子接收其反射回波，通过相位合成单元合成存储在波形存储器中的各元件的A型波形并进行评价，其中，上述超声波探伤装置是进行剖面为大致矩形的被检材的内部探伤的超声波探伤装置，具备至少两个上述阵列探测器，在被检材的剖面视中，对于阵列探测器的一个，沿着被检材呈现的矩形的一边，对于阵列探测器的另一个，沿着与上述一边邻接的边中的一个边，排列了阵列探测器各自的多个振子，激励单元针对各阵列探测器，对各个振子同时进行激励，从而能够通过垂直探伤法进行被检材的探伤，进而对各个振子逐步错开定时地进行激励，从而能够通过斜角探伤法进行被检材的探伤，激励单元使各阵列探测器，将该阵列沿伸的各边作为入射边，通过垂直探伤法以及斜角探伤法，利用多个振子的1次振动，从入射边的各位置向被检材内部入射超声波，使通过垂直探伤法入射的超声波到达与入射边对向的对向边，使通过斜角探伤法入射的超声波到达与入射边邻接的邻接边中的一个边，激励单元将通过垂直以及斜角探伤法入射的超声波的实际的焦点设定到上述对向边或邻接边的外侧、或者不对焦，从而不将超声波的实际的焦点设定在被检材内部。