[发明专利]用于检测目标成分的传感器设备无效
| 申请号： | 200880109313.3 | 申请日： | 2008-09-24 |
| 公开（公告）号： | CN101809445A | 公开（公告）日： | 2010-08-18 |
| 发明（设计）人： | D·J·W·克伦德;A·H·J·英明克 | 申请（专利权）人： | 皇家飞利浦电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N33/543 | 分类号： | G01N33/543 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 龚海军;谭祐祥 |
| 地址： | 荷兰艾*** | 国省代码： | 荷兰;NL |
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| 摘要： | 提供了一种用于检测包括标签粒子的目标成分的微电子传感器设备，包括：具有目标成分可以在其处聚集的结合表面的载体；用于发射入射在该结合表面处的光束的光源；用于确定反射的光束中光量的光检测器。在本发明的一个方面，所述结合表面由多个孔提供，所述多个孔限定具有小于衍射极限的最小面内孔径(W1)的结构，该衍射极限由用于包含所述目标成分的介质限定。优选地，使用所述传感器设备，其中目标成分是不发光的。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 检测 目标 成分 传感器 设备 | ||
【主权项】：
一种用于检测目标成分的微电子传感器设备，包括-具有目标成分可以在其处聚集的结合表面的载体；-用于发射在结合表面处入射的具有波长的辐射束的源；-用于以反射模式确定所述发射的辐射的量的检测器；其中-所述结合表面设有多个孔，所述孔限定具有小于衍射极限的最小面内孔径(W1)的结构，所述衍射极限由辐射波长和用于包含所述目标成分的介质限定。
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