[发明专利]用于光学位置测量装置的检测元件阵列有效
| 申请号： | 200880112163.1 | 申请日： | 2008-09-27 |
| 公开（公告）号： | CN101828096A | 公开（公告）日： | 2010-09-08 |
| 发明（设计）人： | J·奥伯豪泽 | 申请（专利权）人： | 约翰尼斯海登海恩博士股份有限公司 |
| 主分类号： | G01D5/347 | 分类号： | G01D5/347 |
| 代理公司： | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人： | 赵辛 |
| 地址： | 德国特劳*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 本发明涉及用于光学位置测量装置的检测元件阵列，通过它可以将在检测平面中引起的条纹图转换成电的扫描信号。该检测元件阵列由许多矩阵式地设置在行和列中的光敏检测元件组成。对至少一部分检测元件附设不多于两个的开关，通过它们使每个检测元件有选择地与一个或多个相邻的检测元件连接。对至少一部分检测元件附设存储元件，在其中可以寄存信息，它们给出，通过开关一个确定的检测元件在调整的扫描配置中与哪些相邻的检测元件连接。通过两个开关有选择地建立与在相同列中的相邻检测元件的直接连接和/或与在相邻行的相邻列中的倾斜相邻的检测元件的直接连接。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 光学 位置 测量 装置 检测 元件 阵列 | ||
【主权项】：
一个用于光学的位置测量装置的检测元件阵列，通过它可以将在检测平面中引起的条纹图转换成电的扫描信号，该检测元件阵列由许多矩阵式地设置在行(Z)和列(S)中的光敏检测元件(24，240)组成，-其中对至少一部分检测元件(24，240，340，440)附设开关(25.1，25.2，250.1，250.2，350.1，350.2，450.1，450.2)，通过它们使每个检测元件(24，240，340，440)有选择地与一个或多个相邻的检测元件(24，240，340，440)连接和-其中对具有附属开关的检测元件(24，240，340，440)附设至少一个存储元件(26，260，360，460)，在其中可以寄存信息，它们给出，通过开关(25.1，25.2，250.1，250.2，350.1，350.2，450.1，450.2)一个确定的检测元件(24，240，340，440)在调整的扫描配置中与哪些相邻的检测元件(24，240，340，440)连接，其特征在于，对配有附属开关(25.1，25.2，250.1，250.2，350.1，350.2，450.1，450.2)的检测元件(24，240，340，440)分别附属不多于两个的开关(25.1，25.2，250.1，250.2，350.1，350.2，450.1，450.2)，通过它们有选择地建立-与在相同列(S)中的相邻检测元件(24，240，340，440)的直接连接和/或-与在相邻行(Z)的相邻列(S)中的倾斜相邻的检测元件(24，240，340，440)的直接连接。
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