[发明专利]非接触探头有效
| 申请号： | 200880112194.7 | 申请日： | 2008-08-15 |
| 公开（公告）号： | CN101828092A | 公开（公告）日： | 2010-09-08 |
| 发明（设计）人： | 尼古拉斯·约翰·韦斯顿;伊冯娜·鲁思·赫德阿特 | 申请（专利权）人： | 瑞尼斯豪公司 |
| 主分类号： | G01B11/00 | 分类号： | G01B11/00;G01B11/25;G01C11/02 |
| 代理公司： | 广州三环专利代理有限公司 44202 | 代理人： | 温旭;郝传鑫 |
| 地址： | 英国格*** | 国省代码： | 英国;GB |
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| 摘要： | 一种非接触测量装置和方法。探头被设置用于安装在坐标定位设备上，所述探头包括用于捕获待测量物体的图像的至少一个成像装置。还设置一图像分析仪，所述图像分析仪被构造成分析通过所述探头从第一视角获得的物体的至少一个第一图像以及通过所述探头从第二视角获得的物体的至少一个第二图像，以便识别待测量物体上的至少一个目标特征。所述图像分析仪被进一步构造成借助对由探头获得的物体图像的分析而获得关于物体表面的地形数据，其中光学图案被投射到所述物体上。 | ||
| 搜索关键词： | 接触 探头 | ||
【主权项】：
一种非接触测量装置，包括：用于安装在坐标定位设备上的探头，所述探头包括用于捕获待测量物体的图像的至少一个成像装置；图像分析仪，所述图像分析仪被构造成分析通过所述探头从第一视角获得的物体的至少一个第一图像以及通过所述探头从第二视角获得的物体的至少一个第二图像以便识别待测量物体上的至少一个目标特征，所述图像分析仪被进一步构造成借助对由探头获得的物体的至少一个图像的分析而获得关于所述物体的一表面的地形数据，一光学图案被投射到所述物体上。
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