[发明专利]用于估算零件的螺纹参数的方法有效
申请号: | 200880112750.0 | 申请日: | 2008-08-13 |
公开(公告)号: | CN101836071A | 公开(公告)日: | 2010-09-15 |
发明(设计)人: | 约翰·D·斯伯丁 | 申请(专利权)人: | GII采集有限责任公司;以总检测有限责任公司的名义营业 |
主分类号: | G01B5/28 | 分类号: | G01B5/28 |
代理公司: | 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 | 代理人: | 王漪;郑霞 |
地址: | 美国密*** | 国省代码: | 美国;US |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 提供了一种用于估算零件的螺纹参数的方法,零件相对于台和多个感测器移动,所述多个感测器测量包含在未被零件阻挡的引导的辐射平面部分中的辐射的量。辐射的量代表零件的相应的几何尺寸。该方法包括从台的位置限制之间的检查区域获得校准的零件数据。校准的零件数据包括系统的每个感测器和其相应的坐标系统的校准的感测器数据。该方法还包括处理校准的零件数据以获得中间数据。该方法还包括分析中间数据以产生零件的螺纹参数的估算。 | ||
搜索关键词: | 用于 估算 零件 螺纹 参数 方法 | ||
【主权项】:
一种用于估算零件的螺纹参数的方法,所述零件相对于台和多个感测器移动,所述多个感测器测量包含在未被零件阻挡的引导的辐射平面部分中的辐射的量,其中,辐射的量代表零件的相应的几何尺寸,所述方法包括:从所述台的位置限制之间的检查区域获得校准的零件数据,所述校准的零件数据包括系统的每个感测器和其相应的坐标系统的校准的感测器数据;处理所述校准的零件数据以获得中间数据;以及分析所述中间数据以产生零件的螺纹参数的估算。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于GII采集有限责任公司;以总检测有限责任公司的名义营业,未经GII采集有限责任公司;以总检测有限责任公司的名义营业许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200880112750.0/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:用于样品中靶粒子的传感器装置
- 下一篇:冰箱