[发明专利]用于样品中靶粒子的传感器装置有效
| 申请号： | 200880112936.6 | 申请日： | 2008-10-21 |
| 公开（公告）号： | CN101836102A | 公开（公告）日： | 2010-09-15 |
| 发明（设计）人： | C·A·费许雷恩;J·A·H·M·卡尔曼;A·H·J·伊明克;M·梅珍斯;J·维恩;B·M·德布尔;T·P·H·G·扬森 | 申请（专利权）人： | 皇家飞利浦电子股份有限公司 |
| 主分类号： | G01N15/06 | 分类号： | G01N15/06 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人： | 王英;刘炳胜 |
| 地址： | 荷兰艾*** | 国省代码： | 荷兰;NL |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明涉及一种用于确定在与样品室(2)相邻的接触面(112)上的靶粒子(1)的量的传感器装置(100)和方法。通过传感器元件(SE)检测在所述样品室中的靶粒子(1)，并且提供至少一个相应的传感器信号(s、s′)。评估单元(EU)随后基于该传感器信号，确定在紧接所述接触面(112)的第一区(Z1)中和远离所述接触面距离(z)的第二区(Z2)中的靶粒子(1)的量。在光学测量方法中，可以使用在不同操作条件下(例如波长、入射角)发生的受抑全反射来提取关于所述第一区(Z1)和第二区(Z2)的信息。在磁测量方法中，可以使用不同的磁激励场以差别化地激励在所述第一区和第二区(Z2)中的磁靶粒子。此外，可以评估传感器信号(s、s′)的时间过程，特别是关于所述靶粒子(1)的随机移动进行所述评估。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 样品 粒子 传感器 装置 | ||
【主权项】：
一种用于确定在样品室(2)的接触面(112-612)上的靶粒子(1)的量的传感器装置(100-600)，在所述样品室中提供具有所述靶粒子的样品，所述传感器装置包括a)传感器元件(SE)，其用于检测所述样品室(2)中的靶粒子(1)，并且用于提供至少一个相应的传感器信号(s、s′)；b)评估单元(EU)，其用于基于所述至少一个传感器信号，直接地或间接地确定紧接所述接触面上的第一区(Z1)中和远离所述接触面距离(z)的第二区(Z2)中的靶粒子(1)的量。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于皇家飞利浦电子股份有限公司，未经皇家飞利浦电子股份有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/200880112936.6/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：电子舌传感器
- 下一篇：用于估算零件的螺纹参数的方法
