[发明专利]光角度选择光探测器设备有效

专利信息
申请号: 200880113133.2 申请日: 2008-10-21
公开(公告)号: CN101836124A 公开(公告)日: 2010-09-15
发明(设计)人: E·J·梅杰尔;P·维尔吉尔;R·A·M·希克梅特 申请(专利权)人: 皇家飞利浦电子股份有限公司
主分类号: G01S3/783 分类号: G01S3/783
代理公司: 北京市金杜律师事务所 11256 代理人: 王茂华;赵林琳
地址: 荷兰艾恩*** 国省代码: 荷兰;NL
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摘要: 发明涉及一种光角度选择光探测器设备,其包括探测器单元,该探测器单元布置为接收由选择器单元所选择的光。该设备包括至少一组光通过区。每组光通过区包括:具有第一大小的第一光通过区,该第一光通过区位于第一表面上;以及具有第二大小的第二光通过区,该第二光通过区位于第二表面上。第一光通过区和第二光通过区布置为具有横向位移,并且形成对于具有在最大角度和最小角度之间的入射角的光而言、从第一表面到第二表面的光路。
搜索关键词: 角度 选择 探测器 设备
【主权项】:
一种光角度选择光探测器设备,包括:选择器单元和探测器单元,其中所述探测器单元布置为接收由所述选择器单元所选择的光,并且所述选择器单元布置为具有第一表面和第二表面,其中所述第一表面和所述第二表面平行并且上下布置,所述表面垂直隔开一定距离,所述设备包括至少一组光通过区,其中每组光通过区包括位于所述第一表面上的具有第一大小的第一光通过区,以及位于所述第二表面上的具有第二大小的第二光通过区,其中所述第一光通过区和所述第二光通过区布置为具有横向位移,以形成对于具有在最大角度与最小角度之间的入射角的光而言、从所述第一表面到所述第二表面的光路。
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