[发明专利]MFMS-FET和铁电体存储设备及其制造方法无效
申请号: | 200880114434.7 | 申请日: | 2008-10-27 |
公开(公告)号: | CN101919055A | 公开(公告)日: | 2010-12-15 |
发明(设计)人: | 林炳垠 | 申请(专利权)人: | 首尔市立大学教产学协力团 |
主分类号: | H01L27/105 | 分类号: | H01L27/105 |
代理公司: | 沈阳科威专利代理有限责任公司 21101 | 代理人: | 崔红梅 |
地址: | 韩国*** | 国省代码: | 韩国;KR |
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摘要: | MFMS-FET和铁电体存储装置及其制造方法,其特征在于MFMS-FET和铁电体存储装置结构:包括源和排放区的基片,在其间形成的频道区;在基片的频道区顶端形成的缓冲层;在缓冲层上形成的铁电层,和在铁电体层上形成的门电板,其中的缓冲是由导电材料形成的。MFMS的铁电体存储设备的制造方法,包括:形成源区、漏区和通道区;在相当于基片的通道区的区域内形成一个导电材料的缓冲层;在缓冲层的顶部形成一个铁电体层;在铁电体层的顶部形成一个栅电极。本发明的工业实用性体现在能够实现一种铁电体存储设备,该设备结构简单,具有优良的数据保留特性并能够形成一个具有一个单晶体管结构的稳定的存储单元。 | ||
搜索关键词: | mfms fet 铁电体 存储 设备 及其 制造 方法 | ||
【主权项】:
一种金属 铁电体 金属 基片MFMS铁电体存储设备,其特征在于结构组成如下:一个包括源区和漏区的基片和一个形成在源区和漏区之间的通道区;一个缓冲层,形成在基片的通道区的顶部之上;一个形成在缓冲层上的铁电体层;一个栅电极,形成在铁电体层之上,在其中的缓冲层包含一种导电材料。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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