[发明专利]校准发光装置和方法有效
申请号: | 200880116852.X | 申请日: | 2008-11-13 |
公开(公告)号: | CN101868864A | 公开(公告)日: | 2010-10-20 |
发明(设计)人: | R·P·范戈尔科姆;M·C·J·M·威森伯格 | 申请(专利权)人: | 皇家飞利浦电子股份有限公司 |
主分类号: | H01L33/00 | 分类号: | H01L33/00;F21V13/10 |
代理公司: | 北京市金杜律师事务所 11256 | 代理人: | 吴立明;韩剑伟 |
地址: | 荷兰艾恩*** | 国省代码: | 荷兰;NL |
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摘要: | 提出一种发光装置(1),该装置包括用于发光的光源(5)和用于在随应用而定的分布中布置发射的光的校准器(40)。该光源包括:(i)能够发光的半导体器件(10);(ii)本体(20),具有与半导体器件(10)相邻的底表面(21)和相对顶表面(22);以及(iii)与顶表面(22)相邻定位的反射器(30)。发光装置(1)的特征在于反射器(30)具有比本体(20)的底表面(21)更大的表面。这尤其有利于用更小校准器产生给定的光束校准,或者可选地有利于产生如下校准器,该校准器产生明显更窄的光束。 | ||
搜索关键词: | 校准 发光 装置 方法 | ||
【主权项】:
一种发光装置(1),包括:-光源(5),包括:-能够发光的半导体器件(10),-本体(20),具有与所述半导体器件(10)相邻的底表面(21)和相对顶表面(22),以及-与所述顶表面(22)相邻定位的反射器(30),以及-校准器(40),用于在随应用而定的分布中布置发射的光,其特征在于:-所述反射器(30)具有比所述本体(20)的所述底表面(21)更大的表面。
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