[发明专利]存储器中的钨/二氧化硅交界面的衬垫有效
申请号: | 200880117519.0 | 申请日: | 2008-09-26 |
公开(公告)号: | CN101904008A | 公开(公告)日: | 2010-12-01 |
发明(设计)人: | Y·塔纳卡;S·J·拉迪干;U·拉古拉姆 | 申请(专利权)人: | 桑迪士克3D公司 |
主分类号: | H01L27/102 | 分类号: | H01L27/102 |
代理公司: | 北京纪凯知识产权代理有限公司 11245 | 代理人: | 赵蓉民 |
地址: | 美*** | 国省代码: | 美国;US |
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摘要: | 一种半导体晶片组件包括电介质基底。在其上方沉积硅层。在硅上方沉积金属硬掩模。在金属硬掩模上方沉积电介质硬掩模。在电介质硬掩模上方沉积光刻胶,由此多个牺牲柱由穿过光刻胶的金属硬掩模层形成,以便牺牲柱从硅层延伸出。界面层被设置在导电材料层和硬掩模层之间以增强多个牺牲柱中的每一个与导电材料层之间的粘合,从而通过防止由于牺牲柱脱落或跌落而使多个牺牲柱过早地从硅层上脱离来优化由硅形成结型二极管。 | ||
搜索关键词: | 存储器 中的 二氧化硅 界面 衬垫 | ||
【主权项】:
一种半导体晶片组件,其包括:电介质基底;在所述电介质基底上方沉积的硅层;在所述硅层上方沉积的金属硬掩模材料层;在所述金属硬掩模材料层上方沉积的电介质硬掩模材料层;在所述金属硬掩模材料层上方沉积的光刻胶层,由此多个牺牲柱被形成为从所述金属硬掩膜材料层开始穿过所述光刻胶层,从而从所述硅层延伸出所述多个牺牲柱;以及界面层,其被设置在所述金属硬掩模材料层和所述电介质硬掩模材料层之间以增强所述金属硬掩模层和所述电介质硬掩模材料层之间的粘合,从而通过防止所述多个牺牲柱从所述硬掩模材料层上脱离来优化用硅层形成结型二极管。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
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H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的