[发明专利]计数速率测量方法和装置有效

专利信息
申请号: 200880122455.3 申请日: 2008-12-22
公开(公告)号: CN101918861A 公开(公告)日: 2010-12-15
发明(设计)人: 珍妮-帕斯卡·哈德洛特;珍妮-米歇尔·吉拉德;菲利普·伯纳德;尼古拉斯·索尔 申请(专利权)人: 原子能和替代能源委员会
主分类号: G01T3/00 分类号: G01T3/00;G01T1/185
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 李辉;张旭东
地址: 法国*** 国省代码: 法国;FR
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摘要: 发明涉及裂变室计数速率测量装置,并涉及相关的裂变室校准装置。所述计数速率测量装置包括:测量室(1),其容纳所述裂变室(CH);中子产生器(6),其以周期性脉冲的形式朝所述裂变室发射中子;中子计数器(K),其对由所述中子产生器发射的中子进行探测和计数;以及计算电路(34),其在预定的时间间隔上馈送参照由所述中子计数器(K)计数的中子数进行了归一化的裂变室计数速率。
搜索关键词: 计数 速率 测量方法 装置
【主权项】:
一种容纳裂变物质的至少一个裂变室(CH)的计数速率测量装置,其特征在于,该计数速率测量装置包括:测量室(1),其容纳所述裂变室(CH),中子产生器(6),其以周期性脉冲的形式朝所述裂变室发射中子,测量缆线(11),其经由连接器(12)收集所述裂变室在所述中子与所述裂变物质交互作用下馈送的信号,中子计数器(K),其馈送由所述中子产生器(6)发射的中子计数信号,处理系统(ST),其在所述中子产生器发射的中子的发射时段内包含的预定时间间隔上馈送表示所述裂变室所馈送信号的信号和表示所述中子计数信号的信号,以及电路(34),其根据表示所述裂变室所馈送信号的信号和表示所述中子计数信号的信号,计算参照所述中子计数信号进行了归一化的所述裂变室的计数速率(C)。
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