[发明专利]使用至少一个光源校准末端执行器对准的系统和方法有效
申请号: | 200880124045.2 | 申请日: | 2008-12-19 |
公开(公告)号: | CN101911276A | 公开(公告)日: | 2010-12-08 |
发明(设计)人: | 克里斯蒂娜·艾伦布兰切特;马特·罗德尼克 | 申请(专利权)人: | 朗姆研究公司 |
主分类号: | H01L21/677 | 分类号: | H01L21/677;H01L21/68;H01L21/683;H01L21/687;H01L21/3065 |
代理公司: | 上海华晖信康知识产权代理事务所(普通合伙) 31244 | 代理人: | 樊英如 |
地址: | 美国加利*** | 国省代码: | 美国;US |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供一种用于校准末端执行器相对于等离子体处理系统中的卡盘的对准的方法。该方法包括提供从该末端执行器到该卡盘的第一光束。该方法包括使该末端执行器沿着预定校准路径移动以使该第一光束遍历该卡盘的表面。该方法还包括接收一组反射光信号,该组反射光信号是至少在该移动过程中该表面反射该第一光束时产生的。该方法包括分析该组反射光信号以识别三个或更多间断。该三个或更多间断与当该第一光束遇到该卡盘的边缘时产生的三个或更多反射光信号有关。该方法还包括根据该三个或更多间断确定三个或更多坐标数据点,该三个或更多坐标数据点代表该卡盘的该边缘上的三个或更多点。该方法包括根据该三个或更多坐标数据点确定该卡盘的中心。 | ||
搜索关键词: | 使用 至少 一个 光源 校准 末端 执行 对准 系统 方法 | ||
【主权项】:
一种用于校准末端执行器相对于等离子体处理系统中的卡盘的对准的方法,所述方法包含:提供从所述末端执行器到所述卡盘的第一光束;使所述末端执行器沿着预定校准路径移动以使所述第一光束遍历所述卡盘的表面;接收一组反射光信号,所述组反射光信号是至少在该移动过程中所述表面反射所述第一光束时产生的;分析所述组反射光信号以识别三个或更多间断,其中所述三个或更多间断与当所述第一光束遇到所述卡盘的边缘时产生的三个或更多反射光信号有关;根据该三个或更多间断确定三个或更多坐标数据点,所述三个或更多坐标数据点代表所述卡盘的所述边缘上的三个或更多点;以及根据该三个或更多坐标数据点确定所述卡盘的中心。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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