[发明专利]用于借助超声波对试件进行无损检测的方法及装置有效
| 申请号： | 200880126453.1 | 申请日： | 2008-12-08 |
| 公开（公告）号： | CN101952716A | 公开（公告）日： | 2011-01-19 |
| 发明（设计）人： | W-D·克莱纳特;Y·奥伯多弗 | 申请（专利权）人： | 通用电气传感与检测科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N29/26 | 分类号： | G01N29/26;G01N29/06;G01N29/44;G01N29/30 |
| 代理公司： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 | 代理人： | 张政权 |
| 地址： | 德国*** | 国省代码： | 德国;DE |
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| 摘要： | 本发明的主题内容是一种用于借助超声波来对试件(100)进行无损检测的方法，包括以下方法步骤：a.将声照射角β下的定向超声波脉冲辐照入试件(100)，其中电子地设定该声照射角β，b.记录由辐照入试件(100)的超声波脉冲导致的回波信号，c.从可与试件体积中的缺陷(102)相关联的回波信号计算该缺陷(102)的ERS值。此外，本发明还涉及一种用于执行该方法的装置。 | ||
| 搜索关键词： | 用于 借助 超声波 进行 无损 检测 方法 装置 | ||
【主权项】：
一种用于借助超声波来对试件(100)进行无损检测的方法，包括以下方法步骤：a.将声照射角β下的定向超声波脉冲辐照入所述试件(100)，其中电子地设定所述声照射角β，b.记录由辐照入所述试件(100)的所述超声波脉冲导致的回波信号，c.从可与所述试件体积中的缺陷(102)相关联的回波信号计算所述缺陷(102)的ERS值，其中自动地补偿所述声照射角β的所述电子设定对所述缺陷(102)的所述待确定的ERS值的影响。
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