[发明专利]3D纹理的超分辨率的图像生成设备和方法有效
申请号: | 200880130161.5 | 申请日: | 2008-07-30 |
公开(公告)号: | CN102077242A | 公开(公告)日: | 2011-05-25 |
发明(设计)人: | 岩崎正宏;L·麦克马努斯;N·道奇森 | 申请(专利权)人: | 松下电器产业株式会社 |
主分类号: | G06T3/40 | 分类号: | G06T3/40 |
代理公司: | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人: | 陈松涛;韩宏 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明提供一种图像生成设备,所述图像生成设备基于根据对象的低质量图像生成的几何参数,在任意期望位置的伪光源下生成所述对象的高质量图像。所述图像生成设备包括:根据光源位置、视点位置以及关于表面结构的几何法线信息计算关于所述表面结构的第一几何参数的几何参数计算单元(102);存储指示所述表面的一部分的细微结构并且具有比所述几何法线信息更高的空间分辨率的实例的高分辨率数据库单元(103);增大所述实例以在空间上进行扩展的实例扩展单元(104);使用所增大的实例修改所述第一几何参数的几何参数修改单元(105);以及通过将所修改的几何参数应用到反射模型来生成输出图像的图像生成单元(106)。 | ||
搜索关键词: | 纹理 分辨率 图像 生成 设备 方法 | ||
【主权项】:
一种图像生成设备,所述图像生成设备基于关于对象的表面的表面结构的信息来生成更加清晰地表示出所述表面结构的所述对象的高质量图像,由光源照亮并且从视点观察所述高质量图像的所述对象,所述图像生成设备包括:信息获得单元,配置为获得所述光源的位置信息、所述视点的位置信息以及关于所述表面结构的几何法线信息;几何参数计算单元,配置为:针对所述表面中与所述高质量图像中的像素相对应的每一个点,通过使用所述光源的所述位置信息、所述视点的所述位置信息以及所述几何法线信息执行预定的算法运算来计算关于所述表面结构的第一几何参数;存储有实例的高分辨率数据库单元,所述实例是指示所述表面的一部分的细微结构并且具有比所述几何法线信息的空间分辨率高的空间分辨率的几何参数;实例扩展单元,配置为:从所述高分辨率数据库单元中读出所述实例,并且在空间上增大所读出的实例以使得由所读出的实例指示的空间区域覆盖所述高质量图像中的所述对象的表面;几何参数修改单元,配置为通过使用由所述实例扩展单元扩展的所述区域修改所述第一几何参数来计算修改的几何参数;以及图像生成单元,配置为:通过将所述修改的几何参数应用到用于决定所述每一个点的像素值的反射模型来计算所述像素值,从而生成所述高质量图像。
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