[发明专利]基于偏振分析的光谱特性测量方法及其装置有效
| 申请号： | 200910001104.3 | 申请日： | 2009-01-22 |
| 公开（公告）号： | CN101487738A | 公开（公告）日： | 2009-07-22 |
| 发明（设计）人： | 姚晓天 | 申请（专利权）人： | 北京高光科技有限公司;通用光讯光电技术(北京)有限公司 |
| 主分类号： | G01J3/447 | 分类号： | G01J3/447;G01J3/02 |
| 代理公司： | 北京清亦华知识产权代理事务所 | 代理人： | 廖元秋 |
| 地址： | 100089北京市海淀*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及基于偏振分析的光谱特性测量方法及其装置，属于光谱分析技术领域，该方法包括：使被测光进入DGD装置，产生在相互垂直的偏振模式有不同差分群时延的输出光；测量输出光与DGD值相对应的光偏振态和偏振度；对测得的输出光偏振态和偏振度处理，生成被测光的光谱。该装置包括：一个DGD装置，通过改变DGD值，接收被测光并产生不同的群时延；一个光探测器，接收经过DGD装置的光信号，同时去测量输出光的偏振态和偏振度；一个数据处理装置，通过处理来自探测器的光偏振态和偏振度信息，获得被测光的光谱。本发明可以实现很快的测量速率，用来测量与时间函数有关的快速扫描激光。可以通过控制差分群时延值，获得最小频率间隔，提高光谱分辨率。 | ||
| 搜索关键词： | 基于 偏振 分析 光谱 特性 测量方法 及其 装置 | ||
【主权项】：
1、一种基于偏振分析的光谱特性测量方法，其特征在于，该方法包括：使被测光通过差分群时延(DGD)装置，产生在相互垂直的偏振模式有不同群时延的输出光；测量输出光与DGD值相对应的光偏振态和偏振度；对测得的输出光偏振态和偏振度处理，生成被测光的光谱。
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