[发明专利]具有用于自测试的片上噪声源的射频集成电路及其制造方法无效
| 申请号： | 200910001302.X | 申请日： | 2009-01-04 |
| 公开（公告）号： | CN101493498A | 公开（公告）日： | 2009-07-29 |
| 发明（设计）人： | B·A·弗洛伊德;D·R·格林伯格;R·M·马拉迪;B·A·厄纳;S·K·雷诺兹 | 申请（专利权）人： | 国际商业机器公司 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28 |
| 代理公司： | 北京市中咨律师事务所 | 代理人： | 于 静;李 峥 |
| 地址： | 美国*** | 国省代码： | 美国;US |
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| 摘要： | 本发明涉及具有用于自测试的片上噪声源的射频集成电路及其制造方法。具有用于在进行测试和/或校准时使用的片上噪声源的射频集成电路。例如，一种射频集成电路包括：至少一个噪声源，其位于所述射频集成电路上，所述噪声源由数字输入控制；以及射频电路，其位于所述射频集成电路上并被耦合到所述噪声源，其中所述射频电路的至少一个属性可通过所述数字输入控制所述噪声源来确定。 | ||
| 搜索关键词： | 具有 用于 测试 噪声 射频 集成电路 及其 制造 方法 | ||
【主权项】：
1.一种射频集成电路，包括：至少一个噪声源，位于所述射频集成电路上，所述噪声源由数字输入控制；以及射频电路，位于所述射频集成电路上并被耦合到所述噪声源，其中所述射频电路的至少一个属性可通过所述数字输入控制所述噪声源来确定。
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