[发明专利]具有多个非易失性存储器器件的存储装置无效
申请号: | 200910002215.6 | 申请日: | 2009-01-08 |
公开(公告)号: | CN101539886A | 公开(公告)日: | 2009-09-23 |
发明(设计)人: | 木下忠明 | 申请(专利权)人: | 株式会社东芝 |
主分类号: | G06F12/06 | 分类号: | G06F12/06 |
代理公司: | 北京市中咨律师事务所 | 代理人: | 杨晓光;于 静 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | 本发明涉及具有多个非易失性存储器器件的存储装置。根据一个实施例,计数器(141)计数包含在存取的数据中的具有预定逻辑值的位,所述存取的数据为在存取非易失性存储器器件(11-0到11-7)中选择的一个器件所提供的任何物理块的存取过程中要写入或读出的存取的数据。计时器(142)测量所述存取过程中的存取忙期。控制模块(15)根据所述计数器(141)的计数值更新存储在忙期存储模块(124)中并与所述选择的器件相关的存取忙期数据项,由此所述存取忙期数据项表示测量的存取忙期。 | ||
搜索关键词: | 具有 非易失性存储器 器件 存储 装置 | ||
【主权项】:
1.一种主机可存取的存储装置,其特征在于包括:多个非易失性存储器器件,被配置为以多个物理块的形式被管理,每一个所述物理块由位构成并被配置为当所述位被设定到第一逻辑值时所述每一个物理块被擦除;计数器,被配置为对包含在存取的数据中的具有第二逻辑值的位进行计数,所述存取的数据为在存取选择的一个非易失性存储器器件中提供的任何的物理块的存取过程中要写入或读出的存取的数据;计时器,被配置为测量所述存取过程中的存取忙期;忙期存储模块,被配置为存储至少所述非易失性存储器器件的存取忙期;以及控制模块,被配置为根据所述计数器的计数值更新存储在所述忙期存储模块中并与所述选择的一个非易失性存储器器件相关的存取忙期数据项,由此所述存取忙期数据项表示测量的存取忙期。
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