[发明专利]半导体传感器以及半导体传感器的制造方法有效

专利信息
申请号: 200910005272.X 申请日: 2009-01-22
公开(公告)号: CN101493394A 公开(公告)日: 2009-07-29
发明(设计)人: 泷泽照夫;近藤贵幸;轰原正义 申请(专利权)人: 精工爱普生株式会社
主分类号: G01N5/02 分类号: G01N5/02;H01L41/083;H01L41/22
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 代理人: 余 刚;吴孟秋
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供了一种廉价且高灵敏度的半导体传感器以及该半导体传感器的制造方法。其中,该半导体传感器包括:多层压电薄膜,层压在半导体基板上;一对电极,形成在所述多层压电薄膜中的至少上下一对的压电薄膜的界面上,用于激发表面弹性波;金属薄膜,形成在最下层的压电薄膜与所述最下层的压电薄膜正下面的薄膜的界面上,并且,促进最上层的压电薄膜的表面上的凸凹部的生成;以及感应膜,在所述最上层的压电薄膜上至少形成在所述凸凹部上,用于分子吸附。
搜索关键词: 半导体 传感器 以及 制造 方法
【主权项】:
1.一种半导体传感器,其特征在于,包括:多层压电薄膜,层压在半导体基板上;一对电极,形成在所述多层压电薄膜中的至少上下一对的压电薄膜的界面上,用于激发表面弹性波;金属薄膜,形成在最下层的压电薄膜与所述最下层的压电薄膜正下面的薄膜的界面上,并且,该金属薄膜促进最上层的压电薄膜的表面上的凸凹部的生成;以及感应膜,在所述最上层的压电薄膜上至少形成在所述凸凹部上,用于分子吸附。
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