[发明专利]非易失性存储元件的操作方法有效
申请号: | 200910006263.2 | 申请日: | 2006-06-22 |
公开(公告)号: | CN101488503A | 公开(公告)日: | 2009-07-22 |
发明(设计)人: | 吕函庭;赖二琨;王嗣裕 | 申请(专利权)人: | 旺宏电子股份有限公司 |
主分类号: | H01L27/115 | 分类号: | H01L27/115;G11C16/02;H01L21/314 |
代理公司: | 北京中原华和知识产权代理有限责任公司 | 代理人: | 寿 宁;张华辉 |
地址: | 中国台湾新竹*** | 国省代码: | 中国台湾;71 |
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摘要: | 一种非易失性存储元件的操作方法。此存储元件包括衬底、栅极、绝缘层、一电荷储存层与多层穿隧介电结构。衬底具有二源/漏极区,通过沟道区分隔。栅极,设置于衬底上。绝缘层设置于该沟道区上。电荷储存层,设置于绝缘层上。多层穿隧介电结构设置于电荷储存层和栅极之间。通过施加负偏压于栅极,使多个第一型载子自栅极经由多层穿隧介电结构穿隧进入电荷储存层,且通过施加正向偏压于栅极,使多个第二型载子自栅极经由多层穿隧介电结构栅极穿隧进入电荷储存层。 | ||
搜索关键词: | 非易失性 存储 元件 操作方法 | ||
【主权项】:
1. 一种存储元件,其特征在于包括:一衬底,具有二源/漏极区,前述二个源/漏极区通过一沟道区分隔;一栅极,设置于该衬底上;一绝缘层,设置于该沟道区上;一电荷储存层,设置于该绝缘层上;以及一穿隧介电结构,设置于该电荷储存层和该栅极之间,其中通过施加一负偏压于该栅极,使多个第一型载子自该栅极经由上述穿隧介电结构穿隧进入上述电荷储存层,且通过施加一正向偏压于上述栅极,使多个第二型载子自上述栅极经由上述穿隧介电结构栅极穿隧进入上述电荷储存层。
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的
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