[发明专利]制造指示评价支持系统、制造指示评价支持方法无效

专利信息
申请号: 200910006803.7 申请日: 2009-02-27
公开(公告)号: CN101587572A 公开(公告)日: 2009-11-25
发明(设计)人: 塙信一郎;中村功;田所晓子;保手滨敦典;山本由纪子;梅木春男;近藤晃弘;滨本洋一;平冈贡一 申请(专利权)人: 株式会社日立制作所
主分类号: G06Q10/00 分类号: G06Q10/00;G06Q50/00
代理公司: 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 代理人: 李今子
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要: 发明提供一种制造指示评价支持系统、制造指示评价支持方法。制造指示评价支持系统具有:数据读出单元,读出制造指示参数组以及与其对应的制造实绩数据;参数挑选单元,计算构成制造指示参数组的制造指示参数的每一个的危险率和危险率在制造指示参数之间的平均值,将危险率小于等于平均值的制造指示参数确定为选择候补;参数确定单元,针对制造指示参数组和选择候补的制造指示参数,利用多重回归分析程序计算说明变量选择基准值,在制造指示参数组和选择候补的制造指示参数中将说明变量选择基准值大的制造指示参数确定为最佳参数;以及回归式计算单元,利用多重回归分析程序计算并显示采用了最佳参数时的回归式。
搜索关键词: 制造 指示 评价 支持系统 支持 方法
【主权项】:
1.一种制造指示评价支持系统,其特征在于,具备:存储装置,存储参数表、制造实绩表和多重回归分析程序,该参数表存储与产品制造相伴的制造指示的参数,该制造实绩表存储根据制造指示参数工作的制造工序中的制造实绩数据,该多重回归分析程序执行多重回归分析;数据读出单元,从上述参数表以及上述制造实绩表中读出制造指示参数组以及与其对应的制造实绩数据并存储到存储器;参数挑选单元,将上述存储器的制造指示参数组设为说明变量,将上述制造实绩数据设为目的变量,利用上述多重回归分析程序计算构成上述制造指示参数组的制造指示参数的每一个的危险率,并计算所计算出的危险率在制造指示参数之间的平均值,在上述制造指示参数组中将危险率小于等于平均值的制造指示参数确定为选择候补;参数确定单元,针对上述制造指示参数组和上述选择候补的制造指示参数,分别计算多重相关系数、参数数和取样数,根据上述计算出的多重相关系数、参数数和取样数,利用上述多重回归分析程序计算说明变量选择基准值,在上述制造指示参数组和上述选择候补的制造指示参数中,将上述计算出的说明变量选择基准值大的制造指示参数确定为最佳参数;以及回归式计算单元,利用上述多重回归分析程序计算出采用了上述最佳参数时的回归式,并将上述回归式显示到输出接口。
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