[发明专利]表面为曲面的金属表面硬化层深度的测量方法无效
申请号: | 200910029163.1 | 申请日: | 2009-01-07 |
公开(公告)号: | CN101551239A | 公开(公告)日: | 2009-10-07 |
发明(设计)人: | 王钦华;陈珠英;刘立旺;曲宏 | 申请(专利权)人: | 苏州大学 |
主分类号: | G01B11/22 | 分类号: | G01B11/22;G01B11/24 |
代理公司: | 苏州创元专利商标事务所有限公司 | 代理人: | 陶海锋 |
地址: | 215123江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明公开了一种表面为曲面的金属表面硬化层深度的测量方法,其特征在于:采用光热辐射测量法进行测量,分别获得样品在硬化前和硬化后的样品表面温度场的振幅和相位相对于调制光的频率变化的测量值;然后进行自归一化处理,得到对应于频率值的归一化的振幅和相位的值;再利用平面理论采用正向数值拟合算法拟合获得热导率随深度变化的轮廓曲线;由热导率轮廓曲线分析得出硬化深度。本发明通过热物理性质深度轮廓的重建得到金属样品表面硬化层的深度,方便地实现了对表面为曲面的金属样品的表面硬化层厚度的无损测量。 | ||
搜索关键词: | 表面 曲面 金属表面 硬化 深度 测量方法 | ||
【主权项】:
1.一种表面为曲面的金属表面硬化层深度的测量方法,其特征在于,包括下列步骤:(1)对待硬化的样品采用光热辐射测量法进行测量,得到样品表面温度场的振幅和相位相对于调制光的频率变化的扫描测量值;(2)将待硬化的样品进行表面硬化处理,获得硬化后的样品;(3)对硬化后的样品采用光热辐射测量法进行测量,得到样品表面温度场的振幅和相位相对于调制光的频率变化的扫描测量值;(4)根据步骤(1)和(3)中的测量值,进行自归一化处理,得到对应于频率值的归一化的振幅和相位的值;(5)根据步骤(4)中获得的归一化振幅和归一化相位,利用平面理论采用正向数值拟合算法拟合获得热导率随深度变化的轮廓曲线;(6)由热导率轮廓曲线分析得出硬化深度。
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