[发明专利]定量测定纳晶材料不均匀变形的方法无效
| 申请号： | 200910030939.1 | 申请日： | 2009-04-20 |
| 公开（公告）号： | CN101526453A | 公开（公告）日： | 2009-09-09 |
| 发明（设计）人： | 周剑秋;朱荣涛;张舒 | 申请（专利权）人： | 南京工业大学 |
| 主分类号： | G01N3/08 | 分类号： | G01N3/08;G01B11/16 |
| 代理公司： | 南京天华专利代理有限责任公司 | 代理人： | 徐冬涛 |
| 地址： | 210009*** | 国省代码： | 江苏;32 |
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| 摘要： | 一种定量测定纳晶材料不均匀变形的方法，首先制备试样，将所测纳晶材料加工成拉伸试样，在拉伸试样上选定标记区域并做好标记，然后将拉伸试样放入力学测试机中，在位移控制模式的室温、准静态应变率为10-4s-1条件下加载，力学测试机的材料测试系统得到数据并显示应力应变曲线，在加载的同时采用数码相机采集试样表面的图像，并与计算机联接记录图像，最后对数码相机采集的拉伸过程中的图像进行数字图像处理，得到被测试样拉伸过程中图像的面位移和应变场图像。本发明对纳晶材料中剪切带的成因以简单、低成本的方式测量，在现代力学、微电子技术、超精密加工技术和纳米技术等领域将有广阔的应用前景。 | ||
| 搜索关键词： | 定量 测定 材料 不均匀 变形 方法 | ||
【主权项】：
1、一种定量测定纳晶材料不均匀变形的方法，其特征是该方法包括以下步骤：(a).试样的制备：将纳晶镍板原料加工成拉伸试样，在拉伸试样上选定标记区域并做好标记；(b).力学测试与图像采集：将拉伸试样放入力学测试机中，在位移控制模式的室温、准静态应变率为10-4s-1条件下加载，力学测试机的材料测试系统得到数据并显示应力应变曲线，在加载的同时采集试样表面的图像，并与计算机联接记录图像；(c).数字图像处理：对数码相机采集的拉伸过程中的图像进行数字图像处理，得到被测试样拉伸过程中图像的面位移和应变场图像。
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