[发明专利]N型绝缘体上硅的横向双扩散金属氧化物半导体晶体管无效

专利信息
申请号: 200910032752.5 申请日: 2009-06-19
公开(公告)号: CN101587910A 公开(公告)日: 2009-11-25
发明(设计)人: 钱钦松;刘斯扬;孙伟锋;徐申;陆生礼;时龙兴 申请(专利权)人: 东南大学
主分类号: H01L29/78 分类号: H01L29/78;H01L29/06
代理公司: 南京经纬专利商标代理有限公司 代理人: 陆志斌
地址: 21009*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 一种N型绝缘体上硅的横向双扩散金属氧化物半导体晶体管,包括衬底,其上设埋氧化层,埋氧化层上设N型掺杂半导体区,N型掺杂半导体区上设P阱和N型漏区,P阱上设N型源区和P型接触区,P阱表面设栅氧化层且自P阱延伸至N型掺杂半导体区,P阱表面的N型源区、P型接触区和栅氧化层以外区域及N型掺杂半导体区表面的N型漏区以外区域设场氧化层,栅氧化层表面设多晶硅栅且延伸至场氧化层的表面,场氧化层、P型接触区、N型源区、多晶硅栅及N型漏区的表面设氧化层,N型源区、P型接触区、多晶硅栅和N型漏区上连金属层,在P阱和N型漏区之间的N型掺杂半导体区上设上槽区,在N型掺杂半导体区和埋氧化层的接触的地方设下槽区。
搜索关键词: 绝缘体 横向 扩散 金属 氧化物 半导体 晶体管
【主权项】:
1、一种N型绝缘体上硅的横向双扩散金属氧化物半导体晶体管,包括:半导体衬底(9),在半导体衬底(9)上面设置有埋氧化层(8),在埋氧化层(8)上设有N型掺杂半导体区(7),在N型掺杂半导体区(7)上设有P阱(6)和N型漏区(10),在P阱(6)上设有N型源区(11)和P型接触区(12),在P阱(6)的表面设有栅氧化层(3)且栅氧化层(3)自P阱(6)延伸至N型掺杂半导体区(7),在P阱(6)表面的N型源区(11)、P型接触区(12)和栅氧化层(3)的以外区域及N型掺杂半导体区(7)表面的N型漏区(10)以外区域设有场氧化层(1),在栅氧化层(3)的表面设有多晶硅栅(4)且多晶硅栅(4)延伸至场氧化层(1)的表面,在场氧化层(1)、P型接触区(12)、N型源区(11)、多晶硅栅(4)及N型漏区(10)的表面设有氧化层(5),在N型源区(11)、P型接触区(12)、多晶硅栅(4)和N型漏区(10)上分别连接有金属层(2),其特征在于在P阱(6)和N型漏区(10)之间的N型掺杂半导体区(7)上设有上槽区(13),在N型掺杂半导体区(7)和埋氧化层(8)的接触的地方设有下槽区(14)。
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