[发明专利]电性地址与物理地址对应关系的调整方法无效

专利信息
申请号: 200910045937.X 申请日: 2009-01-22
公开(公告)号: CN101789357A 公开(公告)日: 2010-07-28
发明(设计)人: 朱晓荣;赵辉;龙吟;倪棋梁 申请(专利权)人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
主分类号: H01L21/00 分类号: H01L21/00;H01L21/66
代理公司: 上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 代理人: 屈蘅;李时云
地址: 20120*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明提供了电性地址与物理地址对应关系的调整方法,以在根据该对应关系,通过位图系统输出的损坏逻辑die中不合格cell的电性地址,得到该不合格cell的正确物理地址,进而提高失效性分析的成功率。该方法包括:破坏die中预定物理地址的cell;位图系统检测该die,并输出该破坏的cell的电性地址;基于已有电性地址与物理地址的对应关系,通过该电性地址获得该破坏cell的物理地址;比较出获得的该物理地址与预定物理地址的偏差;以及根据该偏差调整所述对应关系。
搜索关键词: 地址 物理地址 对应 关系 调整 方法
【主权项】:
一种电性地址与物理地址对应关系的调整方法,其特征在于,包括:破坏芯片中预定物理地址的单元;位图系统检测该芯片,并输出该破坏的单元的电性地址;基于已有电性地址与物理地址的对应关系,通过该电性地址获得该破坏的单元的物理地址;比较出获得的该物理地址与预定物理地址的偏差;以及根据该偏差调整所述对应关系。
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