[发明专利]光刻装置和方法无效

专利信息
申请号: 200910045979.3 申请日: 2009-01-19
公开(公告)号: CN101782721A 公开(公告)日: 2010-07-21
发明(设计)人: 刘庆炜 申请(专利权)人: 中芯国际集成电路制造(上海)有限公司
主分类号: G03F7/20 分类号: G03F7/20;G02B27/00
代理公司: 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 代理人: 李丽
地址: 201203 *** 国省代码: 上海;31
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摘要: 一种光刻装置和方法,其中,光刻装置包括:照明单元,用于提供原始入射光线;掩模单元,用于提供转移图案,所述原始入射光线在所述转移图案上发生衍射,产生包含零级光和一级光的多级衍射光;透镜,用于聚焦所述多级衍射光;光阑,用于与所述透镜相配合,在第一平面形成关于所述转移图案的像;其中,在所述透镜和所述光阑之间,还包括:调整单元,用于对从所述透镜出射的多级衍射光进行光路调整,使进入所述光阑成像的至少包括一级光。本发明提高了成像的准确性,有效地提升了生产效率。
搜索关键词: 光刻 装置 方法
【主权项】:
一种光刻装置,包括:照明单元,用于提供原始入射光线;掩模单元,用于提供转移图案,所述原始入射光线在所述转移图案上发生衍射,产生包含零级光和一级光的多级衍射光;透镜,用于聚焦所述多级衍射光;光阑,用于与所述透镜相配合,在第一平面形成关于所述转移图案的像;其特征在于,在所述透镜和所述光阑之间,包括:调整单元,用于对从所述透镜出射的多级衍射光进行光路调整,使进入所述光阑成像的光至少包括零级光和一级光。
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