[发明专利]一种保护测控一体化装置控制逻辑的实现方法无效
申请号: | 200910048611.2 | 申请日: | 2009-03-31 |
公开(公告)号: | CN101853010A | 公开(公告)日: | 2010-10-06 |
发明(设计)人: | 崔大勇;陈漫红;范志杰;高军;邵东;邱锡为;潘运平 | 申请(专利权)人: | 上海致达智利达系统控制有限责任公司;上海理工大学 |
主分类号: | G05B19/05 | 分类号: | G05B19/05 |
代理公司: | 上海翼胜专利商标事务所(普通合伙) 31218 | 代理人: | 翟羽;刁文魁 |
地址: | 201517 上*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种保护测控一体化装置控制逻辑的实现方法,其中保护测控一体化装置中的继电保护采用可编程逻辑继电保护,所述可编程逻辑继电保护包含输入输出资源部分、逻辑组态环境部分和逻辑运行环境部分。该方法将保护测控一体化装置中固定的动作逻辑改为可灵活编程的逻辑平台,提供了一个可以根据现场组态进行运行的环境,彻底解决了现有技术中保护测控一体化装置控制逻辑固定、不灵活的缺陷。 | ||
搜索关键词: | 一种 保护 测控 一体化 装置 控制 逻辑 实现 方法 | ||
【主权项】:
一种保护测控一体化装置控制逻辑的实现方法,其特征在于,保护测控一体化装置中的继电保护采用可编程逻辑继电保护,所述可编程逻辑继电保护包含输入输出资源部分、逻辑组态环境部分和逻辑运行环境部分。
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海致达智利达系统控制有限责任公司;上海理工大学,未经上海致达智利达系统控制有限责任公司;上海理工大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/200910048611.2/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种多点温度读取转换方法
- 下一篇:可消除残影的液晶显示装置及其方法