[发明专利]一种纳米颗粒粒径测量装置及方法无效
| 申请号： | 200910049537.6 | 申请日： | 2009-04-17 |
| 公开（公告）号： | CN101571470A | 公开（公告）日： | 2009-11-04 |
| 发明（设计）人： | 杨晖;郑刚;张仁杰;李孟超;孔平 | 申请（专利权）人： | 上海理工大学 |
| 主分类号： | G01N15/02 | 分类号： | G01N15/02 |
| 代理公司： | 上海申汇专利代理有限公司 | 代理人： | 吴宝根 |
| 地址： | 200093*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种纳米颗粒粒径测量装置及方法，将无线电技术中的差拍技术用于动态光散射的频谱测量，通过对散射光信号的频谱的分析就能得到颗粒的粒径信息，与国内现有的技术相比，具有实现简单，测量精度高的特点，为纳米颗粒粒径测量技术的进步又提出了新的思路。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 纳米 颗粒 粒径 测量 装置 方法 | ||
【主权项】：
1、一种纳米颗粒粒径测量装置，其特征在于，包括激光器(1)、凸透镜(2)、样品池(3)、针孔光阑(4、5)、滤光片(6)、光电倍增管(7)、光子计数卡(8)、计算机(9)，激光器(1)发出入射激光经透镜(2)聚焦后照射到样品池(3)内的颗粒样品上，被激光束照射的颗粒产生的垂直与入射激光方向的散射光依次通过双孔结构的针孔光阑(4、5)和滤光片(6)后进入光电倍增管(7)，经过光电倍增管(7)转换成电信号输出进入光子计数卡(8)进行计数，最后数据送入计算机(9)内处理。
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