[发明专利]一种自动测量样品太赫兹波段光谱特性的系统

摘要

本发明公开一种自动测量样品太赫兹波段光谱特性的系统，具有频谱分辨率高，测量速度快，测量结果信噪比高的优点，同时可以对样品进行太赫兹波段的扫描成像。该发明基于非线性光学差频原理生成高功率且稳定的太赫兹源，设计合理可行的光学与机械结构，利用计算机进行精准控制，使用高莱探测器对太赫兹波进行双光路测量，最终实现高精度快速自动化测量样品太赫兹波段透射谱和反射谱特性的目的。

主权项

1.一种自动测量样品太赫兹波段光谱特性的系统，由主泵浦激光源(1)、可调谐激光源(2)、光学延迟线(3)、近红外衰减片(4)(7)、起偏器(5)(8)、缩束镜(6)(9)、反射镜(10)、分光棱镜(11)、非线性差频模块(12)、太赫兹波准直模块(13)、锗滤波片(14)、分束镜(15)、透射式样品模块(16)、反射式样品模块(17)、远红外衰减片(18)(19)、高莱探测器(20)(21)、电机控制器(22)、数字示波器(23)和计算机(24)组成，其特征在于：所述的测量系统具有非线性差频模块(12)，可以将主泵浦激光源(1)和可调谐激光源(2)的激光光束在非线性晶体(12.1)中进行差频从而产生高功率的太赫兹波；所述的测量系统具有透射式样品模块(16)和反射式样品模块(17)，可以对样品(25)进行太赫兹波段的透射或者反射特性的测量；所述的测量系统能够根据所要测量频率特性范围自动调整可调谐激光源(2)的波长从而改变太赫兹波的频率；所述的测量系统用分束镜(15)将太赫兹信号分成两路信号，并用高莱探测器(20)(21)同时对两路太赫兹信号进行探测(双光路探测消除功率抖动影响)，用数字示波器(23)显示并将数据传给计算机(24)进行科学计算和数据分析。