[发明专利]数字基带芯片中I2C模块的自动测试电路结构及其方法有效
| 申请号： | 200910052354.X | 申请日： | 2009-06-02 |
| 公开（公告）号： | CN101907683A | 公开（公告）日： | 2010-12-08 |
| 发明（设计）人： | 胡垚 | 申请（专利权）人： | 上海摩波彼克半导体有限公司 |
| 主分类号： | G01R31/317 | 分类号： | G01R31/317 |
| 代理公司： | 上海智信专利代理有限公司 31002 | 代理人： | 王洁;郑暄 |
| 地址： | 201204 上海市*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种数字基带芯片中I2C模块的自动测试电路结构及方法，电路结构包括数字基带芯片中的GPIO端口，其中数字基带芯片中的I2C模块与GPIO端口相连接。方法包括对I2C模块进行复位操作、初始化I2C模块中的工作寄存器及GPIO端口的工作寄存器、使能I2C模块并根据I2C协议的工作方式进行I2C模块和GPIO端口之间的数据发送接收测试、检验GPIO端口的测试数据和I2C模块的缓存数据的一致性、改变I2C模块的测试参数并重复上述过程。采用该种数字基带芯片中I2C模块的自动测试电路结构及其方法，降低了硬件电路复杂度，降低了测试成本，提高了系统稳定性，增强了测试程序的可移植性，提高了测试结果的可靠性，测试过程方便快捷，工作性能稳定可靠，适用范围较为广泛。 | ||
| 搜索关键词： | 数字 基带 芯片 i2c 模块 自动 测试 电路 结构 及其 方法 | ||
【主权项】：
一种数字基带芯片中I2C模块的自动测试电路结构，包括数字基带芯片中的通用输入输出GPIO端口，其特征在于，所述的数字基带芯片中的I2C模块与所述的通用输入输出GPIO端口相连接。
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