[发明专利]一种用于测试固体粉末材料电导率的测试装置及测试方法无效
| 申请号： | 200910057989.9 | 申请日： | 2009-10-09 |
| 公开（公告）号： | CN101706529A | 公开（公告）日： | 2010-05-12 |
| 发明（设计）人： | 张书诚;陶丽丽;徐云龙 | 申请（专利权）人： | 上海微纳科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R27/02 | 分类号： | G01R27/02 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 200237 上海市浦东新区张江*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明涉及电子设备测试技术领域，它公开了一种用于测试固体粉末材料，特别是难于压制成型的固体粉末材料的电导率的测试装置及测试方法。本发明的测试装置包括成型壳内壳(1)，成型壳外壳(2)，接触片(3)，绝缘密封圈(4)，电阻测试装置(5)，其中两个接触片(3)分别与成型壳内壳(1)、成型壳外壳(2)连接，绝缘密封圈(4)套在成型壳内壳(1)的外部，电阻测试装置(5)的两个指针分别与两个接触片(3)相连。本发明的测试方法包括固体粉末的填充；装置的密封；电阻的测量和计算电导率等步骤。本发明的测试装置和测试方法能够对固体粉末材料，包括难于压制成型的固体粉末材料进行电导率测试，该装置结构简单，操作方便，具有较高的可靠性和稳定性。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 测试 固体 粉末 材料 电导率 装置 方法 | ||
【主权项】：
一种用于测试固体粉末材料电导率的测试装置，包括成型壳内壳(1)，成型壳外壳(2)，接触片(3)，绝缘密封圈(4)，电阻测试装置(5)，其特征在于：两个接触片(3)分别与成型壳内壳(1)和成型壳外壳(2)粘接，绝缘密封圈(4)套在成型壳内壳的外部，电阻测试装置(5)的两个指针分别与两个接触片(3)相连。
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