[发明专利]基于电荷耦合器件的绝对编码光栅相位细分方法有效

专利信息
申请号: 200910059596.1 申请日: 2009-06-15
公开(公告)号: CN101571377A 公开(公告)日: 2009-11-04
发明(设计)人: 赵勇;苏显渝;李雯 申请(专利权)人: 成都千嘉科技有限公司
主分类号: G01B11/02 分类号: G01B11/02
代理公司: 成都科海专利事务有限责任公司 代理人: 黄幼陵
地址: 610211四川省成都市*** 国省代码: 四川;51
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摘要: 一种基于电荷耦合器件(简称CCD)的绝对编码光栅相位细分方法,步骤依次如下:(1)用CCD读数头读取绝对编码光栅的码道图形,(2)对所获绝对编码光栅码道图形中的一行最低码道图形形成的周期离散空间函数序列进行傅里叶变换得到其频谱分布,(3)取出步骤(2)所得频谱分布的基频分量,(4)对步骤(3)所得基频分量作逆傅里叶变换得到基波信号及其相位,(5)将步骤(4)所得基波信号用N个周期相位展成连续相位,(6)用所述连续相位的平均值表达绝对编码光栅中最低码道图形的测量分辨率。此种方法可实现对像素的细分,大大提高绝对编码光栅的分辨率和测量精度。
搜索关键词: 基于 电荷耦合器件 绝对 编码 光栅 相位 细分 方法
【主权项】:
1、一种基于电荷耦合器件的绝对编码光栅相位细分方法,其特征在于步骤依次如下:(1)用电荷耦合器件读数头读取绝对编码光栅的码道图形,(2)对所获绝对编码光栅码道图形中的一行最低码道图形形成的周期离散空间函数序列进行傅里叶变换得到其频谱分布,(3)取出步骤(2)所得频谱分布的基频分量,(4)对步骤(3)所得基频分量作逆傅里叶变换得到基波信号及其相位,(5)将步骤(4)所得基波信号用N个周期相位展成连续相位,(6)用所述连续相位的平均值表达绝对编码光栅中最低码道图形的测量分辨率。
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