[发明专利]细胞定量分析中细胞核DNA物质含量的准确测量方法无效

专利信息
申请号: 200910060845.9 申请日: 2009-02-24
公开(公告)号: CN101492740A 公开(公告)日: 2009-07-29
发明(设计)人: 庞宝川;徐端全 申请(专利权)人: 武汉兰丁医学高科技有限公司
主分类号: C12Q1/68 分类号: C12Q1/68;G01N21/27;G06T7/00;G06K9/00
代理公司: 武汉帅丞知识产权代理有限公司 代理人: 朱必武
地址: 430076湖北省武汉市*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明提供了一种细胞定量分析中细胞核DNA物质含量的准确测量方法,包括以下步骤:利用数学形态学的膨胀算法求取EIOD值;利用统计方法得到EIOD标准值,并由此计算单个细胞核的IOD校正系数;利用细胞核的特征参数和校正系数,通过SVR算法,训练校正系数回归模型,并利用该模型和SVR算法回归重建细胞的CIOD值;利用参照细胞核的CIOD值,换算各细胞核的DNA物质含量值。本发明提高了DNA物质含量测量的准确性和抗干扰性,本发明的DNA物质含量的换算方法,能够得到易于理解和利用的DNA物质含量,与医学上的表达相一致,便于运用于诊断或者研究。
搜索关键词: 细胞 定量分析 细胞核 dna 物质 含量 准确 测量方法
【主权项】:
1、细胞定量分析中细胞核DNA物质含量的准确测量方法,其特征在于:包括下列步骤:a、利用数学形态学中的膨胀算法,对细胞核的掩码图进行膨胀运算;并利用膨胀后的掩码图和原细胞核图像计算扩展积分光学密度EIOD值;b、对标本中G0/G1期的细胞核的EIOD进行统计,得到EIOD标准值,并利用该EIOD标本值和细胞核自身的EIOD值,计算各细胞核的校正系数;c、细胞核的校正系数作为输出,特征参数向量作为输入,通过支持向量回归SVR训练程序,得到细胞核校正系数关于其特征参数向量的回归模型;d、特征参数向量作为输入,细胞核校正系数关于其特征参数向量的回归模型作为模型,通过SVR训练程序回归重建细胞核的校正系数,并利用该校正系数和细胞核本身的EIOD值,计算校正后积分光学密度CIOD值;e、统计G0/G1期的正常细胞的细胞核CIOD值,得到参照CIOD值,并利用该值和细胞核自身的CIOD值计算DNA物质含量。
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