[发明专利]基于线阵推扫式异步采样卫星影像几何模型的正射校正方法无效

专利信息
申请号: 200910063324.9 申请日: 2009-07-24
公开(公告)号: CN101609551A 公开(公告)日: 2009-12-23
发明(设计)人: 龚健雅;胡兴树;眭海刚;马国锐 申请(专利权)人: 武汉大学
主分类号: G06T7/00 分类号: G06T7/00;G01S7/497
代理公司: 武汉华旭知识产权事务所 代理人: 刘 荣
地址: 43007*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明公开了一种基于线阵推扫式异步采样卫星影像几何模型的正射校正方法,采用双中心线投影的投影模式来描述线阵推扫式异步采样卫星影像的几何变形规律,通过恢复双中心线投影的各项参数,建立卫星影像像素坐标与对应的地面坐标之间的关系,从而实现对线阵推扫式异步采样卫星影像正射校正,包括以下步骤:(1)确定双中心线投影模型参数初始值;(2)误差方程系数的计算与模型参数改正数的解算;(3)计算输出正射影像的范围;(4)正射影像格网点灰度值的内插计算。
搜索关键词: 基于 线阵推扫式 异步 采样 卫星 影像 几何 模型 校正 方法
【主权项】:
1.一种基于线阵推扫式异步采样卫星影像几何模型的正射校正方法,其特征在于采用双中心线投影的投影模式来描述线阵推扫式异步采样卫星影像的几何变形规律,通过恢复双中心线投影的各项参数,建立卫星影像像素坐标与对应的地面坐标之间的关系,从而实现对线阵推扫式异步采样卫星影像正射校正,包括以下步骤:(1)确定双中心线投影模型参数初始值;(2)误差方程系数的计算与模型参数改正数的解算;(3)计算输出正射影像的范围;(4)正射影像格网点灰度值的内插计算。
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