[发明专利]基于计算全息的自由曲面三维形貌的测量方法有效

专利信息
申请号: 200910069932.0 申请日: 2009-07-29
公开(公告)号: CN101629813A 公开(公告)日: 2010-01-20
发明(设计)人: 张红霞;吕且妮;贾大功;张以谟;井文才 申请(专利权)人: 天津大学
主分类号: G01B11/24 分类号: G01B11/24;G01B9/023
代理公司: 天津市北洋有限责任专利代理事务所 代理人: 李素兰
地址: 300072*** 国省代码: 天津;12
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摘要: 一种基于计算全息的自由曲面三维形貌的测量方法,根据自由曲面的数学模型,生成具有理想自由曲面波前的计算全息;将实际待测自由曲面进行全息记录;对介质所记录的全息图经过电荷耦合器件抽样得到数字全息图;对数字全息图和计算全息分别进行数字再现,得到待测自由曲面和CGH的波前信息,并将两个波前进行相干叠加,得到干涉图;对干涉图进行相位计算,得到理想自由曲面和待测自由曲面的相位;根据计算得到的相位计算得到每个象素点的高度信息;得到自由曲面三维形貌。本发明通过本测量方法为非接触式光学测量方法,避免了损坏待测自由曲面表面,测量范围和测量对象不受限制,精度高,可实现准实时检测,该方法能够为自由曲面的精密加工提供精确数据。
搜索关键词: 基于 计算 全息 自由 曲面 三维 形貌 测量方法
【主权项】:
1.一种基于计算全息的自由曲面三维形貌的测量方法,该方法包括以下步骤:根据自由曲面的数学模型,生成具有理想自由曲面波前的计算全息CGH;将光源(1),分光镜(2),参考镜(3),两组扩束准直透镜(4)和(5),被测的自由曲面(7)和记录介质(6)组成全息记录光路;介质所记录的全息图经过电荷耦合器件抽样得到数字全息图;对数字全息图和计算全息,分别进行数字再现,得到待测自由曲面和CGH的波前信息,并将这两个波前进行相干叠加,得到干涉图;进行相位计算,得到理想自由曲面和待测自由曲面的相位差值 <mrow> <mi>&phi;</mi> <mrow> <mo>(</mo> <mi>x</mi> <mo>,</mo> <mi>y</mi> <mo>)</mo> </mrow> <mo>=</mo> <mi>arctan</mi> <mfrac> <mrow> <mi>Re</mi> <mrow> <mo>(</mo> <mi>x</mi> <mo>,</mo> <mi>y</mi> <mo>)</mo> </mrow> </mrow> <mrow> <mi>Im</mi> <mrow> <mo>(</mo> <mi>x</mi> <mo>,</mo> <mi>y</mi> <mo>)</mo> </mrow> </mrow> </mfrac> </mrow>式中Re(x,y),Im(x,y)分别对应干涉图中某点的复振幅的实部和虚部;根据计算得到的相位差值计算得到每个象素点的高度信息;每个象素点的高度信息再加上相应的理想高度信息,就得到实际待测自由曲面的三维形貌。
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